Основы сканирующей зондовой микроскопии В.Л. Миронов (3.2 Мб)
Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силовая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ).
(Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений)
Нанотехнология в ближайшем десятилетии. (djvu, 6.8 Мб) Прогноз направления иследовний (под редакцией М.Роко,и др.)
Книга подготовлена коллективом американских исследователей на основе рекомендаций Межведомственной рабочей группы по нанонауке, нанотехнике и нанотехнологии которая входит в Националный совет по науке и технике при президенте США.
Сканирующая тунельная микроскопия новый метод изучения поверхности твердых тел (300 кб)
Сканирующая туннельная микроскопия - от рождения до юности (Биннинг Г., Рорер Г.) (2,8 Мб)
Основы тунельно зондовой нанотехнологии(В.К. Неволин) (djvu, zip 745 кб)
Углеродные нанотрубки. Материалы для компьютеров XXI века. (Дьячков П.Н.) (1,09 Мб)
Магнитно-силовая микроскопия (Тишин А.М., Яминский И.В.) (360 кб)
Закон Ома для разомкнутой цепи и…туннельный микроскоп (Яминский И.В.) (567 кб)