НАНОЭДЬЮКАТОР – это Научно-Учебный Комплекс для преподавания основ нанотехнологии в институтах и университетах.
Мы верим, что будущее начинается сегодня, поэтому создаем специальное оборудование для преподавания основ нанотехнологий. Комплексный подход к процессу обучения обеспечивается наличием следующих составляющих:
- Базовый сканирующий зондовый микроскоп НАНОЭДЬЮКАТОР
- Уучебное пособие по основам СЗМ спектроскопии и нанолитографии
- Подробное руководство пользователя
- Наличие виртуальной Demo-версии программы, проводящей пользователя последовательно через все этапы получения качественного СЗМ изображения
- Развитый контекстный Help
- Сборник ЧАВО (ЧАсто задаваемые ВОпросы)
- Апробированный лабораторный практикум с набором учебных образцов для исследований.
Образовательный процесс с использованием НАНОЭДЬЮКАТОРа направлен на освоение основ работы в режимах Сканирующей Зондовой Микроскопии, приобретение навыков исследования нанообъектов и наноструктур, проведение зондовой нанолитографии и наноманипуляций. Измерительная система имеет специальную конструкцию, в которой учтена необходимость защиты от случайных поломок, встроенная цифровая видеокамера позволяет выбрать интересный участок на поверхности образца и контролировать состояние зонда и процесс его подвода к поверхности. Специальный зондовый датчик может быть восстановлен путем травления, что уменьшает эксплуатационные расходы и позволяет приобретать дополнительные практические навыки пользователю системы.
Новое дружественное программное обеспечение учебно-научного комплекса совместимо с операционными системами MAC и Windows XP.
Таким образом, установка учебно-научного комплекса NANOEDUCATOR фактически означает получение “под ключ” учебного класса по нанотехнологиям, в котором можно сразу же приступать к процессу обучения.
Информационная брошюра Nanoeducator (1 Мб) ![]()
Особенности:
- Дружественный интерфейс
- Пошаговая настройка СЗМ методик
- Наглядность, анимационное обучение
- Отсутствие сложных настроек
- Простая смена образца
- Возможность восстановления зонда и недорогие расходные материалы
Технические характеристики |
|
| Система сканирования | |
| Сканирование | образцом |
| Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY,мкм | не менее 100 |
| Диапазон измерений линейных размеров по оси Z, мкм | не менее 10 |
| Пошаговое сканирование (Мин. шаг) | 2 Å |
| Среднеквадратичное отклонение (СКО) результатов измерений линейных размеров в плоскости XY | не более 5% |
| Среднеквадратичное отклонение (СКО) результатов измерений линейных размеров по оси Z | не более 5% |
| Разрешение | |
| Разрешение в плоскости XY | не более 50 нм |
| Разрешение по оси Z | не более 2 нм |
| Максимальное число точек сканирования по X и Y | 1024х1024 |
| Нелинейность сканирования в плоскости XY | не более 30 нм |
| Неортогональнасть сканера в плоскости XY | не более 5° |
| Неплоскостность сканирования в плоскости XY | не более 500 нм |
| Дрейф в плоскости XY | не более 5 А/c |
| Дрейф по оси Z | не более 5 А/c |
| АСМ режим | X_Y – 50 нм, вплоть до 10 нм с использованием острой иглы и виброизоляции Z – 3 нм |
| СТМ режим | X_Y – 10 нм, Z – 3 нм |
| Операционные системы | Mac OS и Windows XP |
| Образец | |
| Размер образца | диаметр вплоть до 12 мм |
| Толщина образца | вплоть до 5 мм |
| Возможность подавать напряжение на образец | есть |
| Массо-габаритные характеристики | |
| Габаритные размеры контроллера (длина x глубина x высота) | 260х160х360 мм |
| Габаритные размеры измерительной головки (длина x глубина x высота) | 160х160х130 мм |
| Масса (в комплекте) | не более 8 кг |
| Условия эксплуатации | |
| Напряжение питания переменного тока | 220(+10/-15%) В |
| Потребляемая мощность | не более 60 Вт |
| Темепература окружающего воздуха | 20±5 °С |
| Относительная влажность воздуха | не более 65±15 % |
| Атмосферное давление | 760±30 мм рт.ст |
| Дрейф температуры | не более 1 °С в час |
Амплитуда вибраций в полосе частот 1 1000 Гц |
не более 0,5 мкм |
Основные СЗМ методики |
|
АСМ, "Полуконтактный" метод
|
СТМ
|
Наличие АСМ и СТМ методик позволяет проводить исследования как проводящих, так и диэлектрических образцов. В качестве примеров можно привести:
- Биологические объекты, вплоть до ДНК
- Накопители информации (CD, DVD и матрицы для их изготовления)
- Микро и наноструктуры
- Оптоэлектронные элементы и т.д.
Конфигурации:
НАНОЭДЬЮКАТОР является полноценным СЗМ, специально разработанным для обучения основным методикам СЗМ. Прибор позволяет проводить АСМ и СТМ измерения без замены зонда.
Измерительная головка включает сканер с предметным столиком, на который устанавливается образец, и зондовый датчик. Конструкция измерительной головки разработана таким образом, чтобы исключить случайное повреждение сканера при поперечном смещении.
Легко устанавливаемая на измерительную головку цифровая видеокамера оснащена автономным источником освещения. Возможность перемещения видеокамеры позволяет выбрать интересующий участок на поверхности образца. Положение источника света также можно менять, что позволяет подчеркивать особенности рельефа поверхности образца за счет изменения угла подсветки.

1000 Гц