Сканирующие зондовые микроскопы
Оптические гелиевые криостаты
Спектрофотометры
Дифрактометры
Хроматографы




Альтаир

Платформа СОЛВЕР: СОЛВЕР PRO-M

СОЛВЕР PRO-M – это Сканирующий Зондовый Микроскоп универсальный по своим функциональным и измерительным возможностям. Модульный принцип конструкции обеспечивает уникальную возможность конфигурировать прибор для определённых применений и конкретных методик исследования. Диапазон измерений может варьироваться от 1,3 до 15-ти микронного по Z и от 3мкм до 150мкм по XY. Высокая степень разрешения от молекулярного до атомарного уровня в режимах СТМ и контактной АСМ достигается за счет применения сканеров с диапазонами: 3х3х1,3мкм и 10х10х2мкм. Атомарное разрешение обеспечивается низким уровнем шумов сканера (0,25 A RMS по Z) и предельно малой величиной шага сканирования (используется 22-х разрядный ЦАП). Управляющая электроника нового поколения позволяет работать в высокочастотных режимах (до 5 мГц). Эта возможность оказывается принципиальной при работе с высокочастотными модами Атомно-Силовой Микроскопии или использовании высокочастотных кантилеверов. Передовые технологии конструирования и изготовления Солвер PRO-М, мощное программное обеспечение, которое легко настраивается на выполнение любой методики измерений, существенно сокращают время, необходимое для всестороннего исследования образца, и позволяют получить полную и достоверную информацию о его свойствах: рельефе поверхности, распределении магнитных и электрических полей, локальной жесткости и эластичности (включая количественную оценку модуля Юнга), вязкости, силе трения, адгезии и т.д.

Особенности:

  • Открытый дизайн, модульность
  • Возможность исследовать как маленькие, так и большие образцы, вплоть до образцов неограниченного размера (в режиме Stand Alone)
  • Большой диапазон сканирования по XYZ (до 150х150х15 мкм в некоторых конфигурациях)
  • Возможность получения атомарного и молекулярного разрешения на воздухе и в жидкости в режимах контактной AСM, прерывисто-контактной AСM, СТМ (не проводящие жидкости)
  • Универсальный держатель кантилевера позволяет использовать любые кантилеверы, в том числе изготовленные собственноручно, для конкретной задачи пользователя
  • Возможность работать во многих режимах одним зондом без перенастраивания оборудования, все настройки осуществляются программно
  • Интегрированная, удобная в настройке и использовании оптическая видеосистема с разрешением до 1мкм.
  • Встроенная подпрограмма-гид для автоматизации и упрощения подготовки системы к измерениям – Smart Software


Измерительные методики

На воздухе: СТМ/ АСМ (контактная+"полуконтактная"+бесконтактная)/ ЛСМ/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Отображение Сопротивления Растекания/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ МЗК/ Отображение Сил Адгезии/ АСМ Силовая Литография (наногравировка+наночеканка), АСМ Токовая Литография (анодное оксидирование), СТМ Литография / АСАМ

В жидкости: АСМ (контактная+полуконтактная+бесконтактная)/ ЛСМ/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Микроскопия Сил Адгезии/ АСМ Литография

Особый интерес СОЛВЕР PRO-M представляет для исследований полимерных материалов (Сферулиты и дендриты, полимерные монокристаллы, блок-сополимеры, политмерные наночастицы, ЛБ-пленки, тонкие пленки ).
В состав данной модели входят также наборы зондовых датчиков, тестовых и калибровочных структур специально разработанных для характерных применений конкретной комплектации.

Наличие жидкостной головы позволяет проводить измерения в области Life Sciences. Также имеется возможность исследований различных материалов с нагревом  до 130оС.

Дополнительные возможности:

  • Совмещение АСМ с функцией наноиндентации для исследования механических свойств и жесткости образца
  • Лучшее контрастное изображение распределения жесткости на мягких, и твердых образцах, возможность определять численные значения модуля Юнга при работе в режимах Атомно-Силовой Акустической Микроскопии


Конфигурации:

АСМ конфигурация с двойным сканированием
В данной конфигурации возможно достижение области сканирования 200х200 мкм путем сканирования одновременно зондом и образцом, при этом реализуются все основные АСМ методы.

  

Конфигурация для СТМ измерений
СТМ головка с предусилителем на диапазон токов 30pA-50nA. Конструкция головки предусматривает возможность использования видеомикроскопа с 1 мкм разрешением. В данной конфигурации сканирования осуществляется образцом.

Конфигурация для измерений в жидкости
Данная конфигурация, нацелена на применение в области Life Science и обладает широкими возможностями проведения измерений в жидких средах.

  

Конфигурация для оптических измерений
Конфигурация СБОМ может быть использована для исследования клеток, молекул ДНК, вирусов, свойств полупроводников, для получения структур с характерными размерами на уровне 1/10 длины световой волны, для проведения спектроскопических исследований биологических объектов (как правило с помощью УФ излучения), для наблюдения процессов химических реакций.

Конфигурация для АСМ измерений с высоким разрешением.
Данная конфигурация за счет использования сканирования образцом позволяет АСМ реализовать измерения с максимальным разрешением при минимальных искажениях.

  

Конфигурация для Атомно-Силовой Акустической Микроскопии
Данная конфигурация особенно полезна для материаловедческих исследований и позволяет с высоким пространственным разрешением определять локальные значения модуля Юнга.

Информационная брошюра Солвер PRO-M (93 Кб)