Сканирующие зондовые микроскопы
Оптические гелиевые криостаты
Спектрофотометры
Дифрактометры
Хроматографы




Альтаир

Платформа СОЛВЕР: СОЛВЕР P47-PRO

СЗМ СОЛВЕР P47-PRO  - это универсальный прибор для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 С. Конструкция прибора гарантирует максимальную точность измерений и большое число СЗМ измерительных методик. Эта модель может быть успешно использована как в маленьких компаниях и университетских лабораториях, так и в больших исследовательских центрах.

Особенности:

  • Собственная система виброизоляции для получение сверх-высокого разрешения без дополнительной виброзащиты (вплоть до атомарного)
  • Сканирующая Туннельная Микроскопия, Атомно-Силовая Микроскопия и Shear Force (позволяет использовать оптическое волокно в качестве зондового датчика) в одном приборе.
  • Работа в жидкостях, в контролируемой газовой среде и при температурах до 150о С
  • Интерактивная система управления и программная настройка режимов работы и функциональной схемы прибора.
  • Возможность сохранения настроек в отдельных файлах позволяет начинающему пользователю работать с использованием практически всех современных методов сканирующей зондовой микроскопии. 
  • Опытный пользователь может разрабатывать и реализовывать свои собственные методики, в том числе многопроходные.


Методики Измерений

На воздухе: СТМ/ Низкотоковая СТМ/ Туннельная Спектроскопия/Контактная АСМ/МЛС/Резонансная АСМ (полуконтактная + безконтактная)/Метод отображения Фазы/Метод модуляции силы/Изображение Силы Адгезии/Отображение сопротивления растекания /СЕМ /МЗК /МСМ /ЭСМ/ Поперечно-силовая микроскопия/ АСМ (Силовая + Токовая), СТМ и RM литографии

В жидкости: Контактная АСМ / Микроскопия Боковых Сил/ Метод Модуляции силы/Изображение Силы Адгезии/ полуконтактная (scanner-driven) АСМ/ АСМ (Силовая) Литография.

Применения

Идеальный прибор для комплексного исследования различных материалов с высоким разрешением на воздухе и в контролируемых газовых средах (конфигурация сканирования образцом). Прибор может применяться в электронной промышленности для контроля нанолитогрфических (токовых, электрополевых, механических, химических и др.) операций, для контроля качества поверхности полупроводниковых и других пластин диаметром до 100 мм и толщиной до 20 мм. В химической промышленности, материаловедении и в биотехнологии прибор может применяться для контроля технологических процессов получения различных покрытий, пленок, полимерных и структурированных материалов и т.д.

Конфигурации:

АСМ конфигурация с двойным сканированием
В данной конфигурации возможно достижение области сканирования 200х200 мкм путем сканирования одновременно зондом и образцом, при этом реализуются все основные АСМ методы.

  

Конфигурация для проведения измерений в жидкости
Конфигурация предназначена для проведения измерений с использованием основных АСМ-методик в жидкости. Наличие сменных держателей зонда позволяет проводить измерения на воздухе и в газовых средах.

Конфигурация для измерений в жидкости
В данной конфигурации используется юстировочный столик с жидкостной ячейкой, устанавливаемой на сканере.

  

Конфигурация для СТМ измерений
СТМ головка с предусилителем на диапазон токов 30pA-50nA. Конструкция головки предусматривает возможность использования видеомикроскопа с 1 мкм разрешением. В данной конфигурации сканирования осуществляется образцом.

Конфигурация для оптических измерений
Конфигурация СБОМ может быть использована для исследования клеток, молекул ДНК, вирусов, свойств полупроводников, для получения структур с характерными размерами на уровне 1/10 длины световой волны, для проведения спектроскопических исследований биологических объектов (как правило с помощью УФ излучения), для наблюдения процессов химических реакций.

    

Информационная брошюра Солвер P-47 PRO (96 Кб)