Платформа ИНТЕГРА: ИНТЕГРА Томо
ИНТЕГРА Томо – это уникальная интеграция Сканирующего Зондового Микроскопа и ультрамикротома.
Фундаментальной особенностью атомно-силового микроскопа (АСМ) является исследование образца исключительно на поверхности. Для того, чтобы иметь возможность изучать внутреннюю структуру объектов и задействовать при этом огромный арсенал АСМ методик была создана НаноЛаборатория ИНТЕГРА Томо, в которой АСМ работает в паре с ультрамикротомом. Принцип метода АСМ томографии состоит в следующем: ультрамикротом производит срез, подготавливая поверхность образца для исследования; к зафиксированному в держателе ультрамикротома образцу подводится измерительный блок и осуществляется сканирование поверхности в одном из режимов АСМ. Полученное изображение сохраняется. После этого измерительный блок отводится, и ульрамикротомом срезается ультратонкий (до 20 нм) слой материала образца. К освободившейся поверхности вновь подводится АСМ и получается следующее изображение. Такой цикл повторяется несколько раз. После этого из накопленных АСМ изображений, зная толщину срезаемого ультрамикротомом слоя, реконструируют трехмерную картину распределения наноразмерных неоднородностей в объеме образца. Такой подход оказывается незаменимым при исследовании сложных материалов, ценные характеристики которых обусловлены особенностями их объемной организации. В качестве примера можно привести материалы, в которых наночастицы (сажа, глина и т.п.) встроены в трехмерную сеть из волокон полимера. В этом случае принципиально важно знать не только размер частиц, но и насколько равномерно они распределены в объеме полимерной матрицы. Другим примером могут служить сополимеры, в которых встречаются наноразмерные области, отличающиеся друг от друга по составу. Их структуру также можно реконструировать и изучать с помощью АСМ томографии.
Технические характеристики:
Применение:
ИНТЕГРА Томо предназначена для исследования биологических объектов,
- Протеины
- ДНК
- Вирусы
- Бактерии
- Эукариоты
- Ткани
а также нацелена для работы с Полимерами и Тонкими Органическими Пленками:
- Сферулиты и дендриты
- полимерные монокристаллы
- блок-сополимеры
- политмерные наночастицы
- ЛБ-пленки, тонкие пленки
Конфигурации:
Конфигурация с ультрамикротомом
АСМ анализ срезов образца полученных с помощью ультротома позволяет отобразить крошечные детали внутри объекта основываясь на физических свойствах неоднородностей.
Конфигурация для АСМ измерений с высоким разрешением
Данная конфигурация за счет использования сканирования образцом позволяет АСМ реализовать измерения с максимальным разрешением при минимальных искажениях.