Платформа ИНТЕГРА: ИНТЕГРА Терма
ИНТЕГРА Терма – это СЗМ с беспрецедентно низким уровнем температурных дрейфов. В любом Сканирующем Зондовом Микроскопе существует некоторый дрейф — неконтролируемое смещение зонда относительно образца, возникающее из-за влияний градиентов температуры. Неравномерное расширение или сжатие деталей устройства приводит к тому, что зонд и образец с течением времени смещаются относительно друг друга. В коммерческих СЗМ такой дрейф (термодрейф) составляет 20–50 нм в час. Подобный дрейф не критичен, если исследование проводится на относительно большой площади, однако для задач с размером скана в несколько десятков нанометров, термодрейф становится критической характеристикой. Если на небольшом поле сканирования выбран некий характерный объект, например, наночастица, и необходимо получить несколько последовательных изображений именно данной частицы с получасовыми интервалами, то такая задача не под силу обычным СЗМ. НаноЛаборатория ИНТЕГРА Терма — единственная система, способная с ней справиться. Влияние температурных дрейфов приобретает колоссальное значение в тех случаях, когда температуру образца нужно менять в процессе исследования. Диапазон неконтролируемых смещений при этом составляет 50–300 нм на градус К, т.е. при нагреве или охлаждении образца на 10° нужно быть готовым к дрейфу до 3 микрон! НаноЛаборатория ИНТЕГРА Терма была разработана как СЗМ с минимально возможным уровнем температурных дрейфов. За счет симметрии конструкции измерительного модуля, тщательного подбора материалов с учетом их коэффициентов теплового расширения, а также благодаря двойному контуру внутренней термостабилизации, величина дрейфа при изменении температуры образца в ИНТЕГРА Терма составляет <10 нм на градус К. Полностью избавиться от температурных дрейфов невозможно, однако уникальность ИНТЕГРА Терма состоит в том, что при изменении температуры образец и зонд в нём смещаются сонаправленно, минимизируя влияние температуры на качество СЗМ измерений.
Особенности:
- Уникально низкий дрейф при постоянной температуре (<3 нм/час)
- Уникально низкий дрейф при меняющейся температуре (<10 нм/градус)
- Возможность получать изображения и осуществлять манипуляции на сверхмалых полях сканирования (<100 нм) с включенными датчиками перемещения.
- Нагревание образца до 3000 С и охлаждение до -300 С с точностью поддержания температуры 0,050С
- Возможность наращивать функциональность
Технические характеристики:
* Сканирующие измерительные головки могут быть использованы в качестве выносных головок при измерениях на образцах неограниченных размеров.
** При одновременном сканировании образцом и зондом (метод DualScan™) возможна 200 мкм область сканирования.
*** Диапазон температур –30°C – +80°C.
**** Встроенные емкостные датчики обладают рекордно низким уровнем шумов, что позволяет осуществлять сканирование с замкнутой петлей обратной связи при размерах области сканирования вплоть до 50x50 нм.
Применение:
ИНТЕГРА Терма предназначена для проведения измерений контактными и полуконтактными методами с нагревом образца до 200°C.
ИНТЕГРА Терма направлена для работы с Полимерами и Тонкими Органическими Пленками:
- Сферулиты и дендриты
- Полимерные монокристаллы
- Блок-сополимеры
- Политмерные наночастицы
- ЛБ-пленки, тонкие пленки
Дополнительные возможности:
Уникальная методика Атомно-Силовой Акустической Микроскопии (АСАМ)
Конфигурации:
Конфигурация для АСМ измерений с высоким разрешением |
Конфигурация для высокотемпературных измерений |
|
Конфигурация для СТМ измерений |
Конфигурация с регистрирующей системой |
